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半導(dǎo)體/PCB

利用高速FPGA設(shè)計PCB的要點及相關(guān)指導(dǎo)原則

星之球科技 來源:Altera公司 Joel Martinez: EDN2014-12-23 我要評論(0 )   

電路板設(shè)計中,為了盡量減少串?dāng)_,微帶線和帶狀線的布線可以遵循幾種指導(dǎo)原則。對于雙帶線版圖,布線是在兩層內(nèi)板上進行,兩面都有一個電壓參考面,這時最好所有鄰近層...

   電路板設(shè)計中,為了盡量減少串?dāng)_,微帶線和帶狀線的布線可以遵循幾種指導(dǎo)原則。對于雙帶線版圖,布線是在兩層內(nèi)板上進行,兩面都有一個電壓參考面,這時最好所有鄰近層板的導(dǎo)線都采用正交布線技術(shù),盡量增大兩個信號層之間的介質(zhì)材料厚度,并最小化每個信號層與其鄰近參考平面間的距離,同時保持所需要的阻抗。

 

  微帶線或帶狀線布線指導(dǎo)原則

 

  線跡間距至少三倍于電路板布線層間介質(zhì)層的厚度;最好使用仿真工具預(yù)先模擬其行為。

 

  對臨界高速網(wǎng)絡(luò)用差分代替單端拓撲,以把共模噪聲的影響減至最小。在設(shè)計限度內(nèi),盡量匹配差分信號路徑的正負引腳。

 

  減小單端信號的耦合效應(yīng),留有適當(dāng)間隔(大于三倍的線跡寬度),或者是在不同板層上布線(鄰近層布線彼此正交)。此外,使用仿真工具也是滿足間距要求的一個好辦法。

 

  把信號端接信號間的并行長度減至最短。

 

  同時轉(zhuǎn)換噪聲

 

  時鐘和I/O數(shù)據(jù)速率提高時,輸出轉(zhuǎn)換次數(shù)相應(yīng)減少,信號路徑放電充電期間的瞬態(tài)電流隨之增大。這些電流可能造成板級接地彈跳現(xiàn)象,即接地電壓/Vcc瞬間上升/下降。非理想電源的大瞬態(tài)電流會導(dǎo)致Vcc的瞬間下降(Vcc下降或凹陷)。下面給出了幾條很好的板設(shè)計規(guī)則,有助于減少這些同時轉(zhuǎn)換噪聲的影響。

 

可用I/O被完全利用時推薦的信號

可用I/O被完全利用時推薦的信號

圖為可用I/O被完全利用時推薦的信號、電源和接地層數(shù)目。

 

  把不用的I/O引腳配置為輸出引腳,并低電壓驅(qū)動,以減小接地彈跳。

 

  盡量減少同時轉(zhuǎn)換輸出引腳的數(shù)目,并使它們在整個FPGA I/O部分均勻分配。

 

  不需要高邊緣速率時,F(xiàn)PGA輸出端選用低壓擺率。

 

  把Vcc安插到多層板的接地平面之間,以消除高速線跡對各層的影響。

 

  把全部板層都用于Vcc和接地可使這些平面的電阻和電感最小,從而提供一個電容和噪聲更低的低電感源,并在鄰近這些平面的信號層上返回邏輯信號。

 

  預(yù)加重、均衡

 

  最先進的FPGA所具有的高速收發(fā)器能力,讓它們成為高效的可編程系統(tǒng)級芯片元件,同時也為電路板設(shè)計人員帶來了獨特的挑戰(zhàn)。一個關(guān)鍵問題,尤其與版圖有關(guān)的,是與頻率相關(guān)的傳輸損耗,主要由趨膚效應(yīng)和介電損耗引起。當(dāng)高頻信號在導(dǎo)體表面(比如PCB跡線)傳輸時,由于導(dǎo)線的自感,就會產(chǎn)生趨膚效應(yīng)。這種效應(yīng)減小了導(dǎo)線的有效傳導(dǎo)面積,削弱了信號的高頻分量。介電損耗是由板層之間介質(zhì)材料的電容效應(yīng)所造成的。趨膚效應(yīng)與頻率的平方根成比例,而介電損耗與頻率成比例;因此,介電損耗是高頻信號衰減的主要損耗機制。

 

  數(shù)據(jù)速率越高,趨膚效應(yīng)和介電損耗就越嚴(yán)重。對1Gbps的系統(tǒng),鏈路上信號電平的降低尚可接受,但在6Gbps的系統(tǒng)上就不能接受了。不過,現(xiàn)在的收發(fā)器具有發(fā)射器預(yù)加重(pre-emphasis)和接收器均衡(equalization)功能,可以補償高頻信道的失真。它們還可增強信號完整性,放寬線跡長度的限制。這些信號調(diào)節(jié)技術(shù)延長了標(biāo)準(zhǔn)FR-4材料的壽命,能支持更高的數(shù)據(jù)率。由于FR-4材料中的信號衰減,在以6.375Gbps的速率工作時,允許的跡線長度被限制在幾英寸范圍。而預(yù)加重和均衡功能可以將之延長到40多英寸。

 

  某些高性能FPGA中集成有可編程預(yù)加重及均衡功能,如Stratix II GX器件,故其能采用FR-4材料,并放寬最大跡線長度等版圖限制,降低電路板成本。預(yù)加重功能可有效提升信號的高頻分量。Stratix II GX中的4抽頭預(yù)加重電路能減小信號分量的散射(從一位擴散到另一位的空間)。預(yù)加重電路可提供最大500%的預(yù)加重,根據(jù)數(shù)據(jù)率、跡線長度和鏈路特性,每個抽頭可被優(yōu)化到最大16級。

 

  Stratix II GX接收器包含一個增益級和線性均衡器,可補償信號衰減。除了輸入增益級之外,該器件還讓電路板設(shè)計人員擁有最大17dB的均衡水平,可利用16個均衡器級中的任意一級來克服板損耗的問題。均衡和預(yù)加重功能可用于音樂會環(huán)境或用于單獨優(yōu)化特定鏈路。

 

  在系統(tǒng)運行時,或者是在其插入到背板或其它底盤之后進行卡配置時,設(shè)計人員可以改變Stratix II GX FPGA中的預(yù)加重和均衡級。這就給予了系統(tǒng)設(shè)計人員自動把預(yù)加重和均衡級設(shè)置為預(yù)定值的靈活性。另外,根據(jù)板子被插入到底盤或背板上的哪一個插槽,也可以動態(tài)確定這些值。

 

  EMI問題和調(diào)試

 

  印制電路板引起的電磁干擾與電流或電壓隨時間的變化,以及電路的串聯(lián)電感直接成比例。高效的電路板設(shè)計有可能把EMI最小化,但不一定完全消除。消除“入侵者”或“熱”信號,以及適當(dāng)參考接地平面發(fā)送信號,也有助于減少EMI。最后,采用當(dāng)今市場很常見的表面貼裝元件也是減少EMI的一種方法。

 

  調(diào)試和測試復(fù)雜的高速PCB設(shè)計已越來越困難,因為某些傳統(tǒng)的板調(diào)試方法,比如測試探針和“針床式(Bed-of-nails)”測試儀,可能不適用于這些設(shè)計。這種新型的高速設(shè)計可以利用具有系統(tǒng)內(nèi)編程功能的JTAG測試工具和FPGA可能帶有的內(nèi)建自測試功能。設(shè)計人員應(yīng)該使用相同的指導(dǎo)方針來設(shè)置JTAG測試時鐘輸入(TCK)信號作為系統(tǒng)時鐘。此外,把一個器件的測試數(shù)據(jù)輸出和另一個器件的測試數(shù)據(jù)輸入之間的JTAG掃描鏈線跡長度減至最短也是相當(dāng)重要的。

 

  要利用嵌入式高速FPGA進行成功的設(shè)計,需要充沛的高速板設(shè)計實踐,以及對FPGA功能的充分了解,如引腳安排、電路板材料和堆疊、電路板布局,以及終端模式等的了解。內(nèi)建收發(fā)器的預(yù)加重 (pre-emphasis)和均衡功能的合理使用也很重要。上述幾點結(jié)合起來就可以實現(xiàn)一個具有穩(wěn)定的可制造性的可靠設(shè)計。所有這些因素的仔細考量,加上正確的仿真和分析,就可以把電路板原型中發(fā)生意外的可能性降至最小,并將有助于減輕電路板開發(fā)項目的壓力。

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