2.2 LED光色參數(shù)隨溫度變化曲線的測量

　　封裝LED的光色參數(shù)一般是在PN結(jié)為25±1℃的條件下給出的，而在實際工作中，結(jié)溫通常高于25℃，其光色性能會發(fā)生較大變化，這也給封裝LED的應(yīng)用帶來困擾。因此，有必要監(jiān)測LED的光色參數(shù)隨結(jié)溫變化的情況，如圖3所示。光色參數(shù)隨PN結(jié)溫度變化曲線的測量與K系數(shù)的測量方法類似。

　　而考察環(huán)境溫度（參考點溫度）對LED的光色參數(shù)的影響則更為直觀，對LED的應(yīng)用更具指導(dǎo)意義。該測量可在下述的加速老練和壽命試驗箱中進行。

　　3　LED壽命測試

　　3.1  LED的加速老練和壽命測試  

　　與傳統(tǒng)照明產(chǎn)品不同，LED產(chǎn)品的壽命終了主要表現(xiàn)為光衰到一定程度，如衰減到50%或70%流明維持率，即L50或L70。現(xiàn)有的國際標準或國家標準中除了對壽命時間提出要求外，一般還要求燃點3000h時光通維持率應(yīng)不低于92%，在燃點6000h時其光通維持率應(yīng)不低于88%；也有標準根據(jù)6000h時的光通維持率對LED進行等級分類。美國標準LM-80-08主要針對封裝LED及LED模塊的光通維持壽命測量，它提出了在三個外殼溫度下測量LED的光通維持率，分別為：85ºC ，55ºC 和制造商選擇的溫度，在高溫下老練LED，主要是為了模擬被測LED的實際工作環(huán)境。老練測試時間為6000小時，可根據(jù)測試的數(shù)據(jù)進行外推計算獲取LED的壽命時間。如圖4所示為壽命推算曲線：

　　LED的壽命很長，額定條件下的老練壽命測試極為耗時。除了上述的根據(jù)初期光通維持率變化外推出L50或L70壽命時間的外推法之外，還可以使用加速老練壽命試驗的解決方案，即在不改變LED失效機理的前提下，加大應(yīng)力條件來加快LED的衰減速度，從而減少壽命試驗的時間[2-3]。目前加速壽命試驗可分為增大測試電流和提高環(huán)境溫度兩種加速方法，以電流加速試驗為主。加速老練獲取的壽命值可根據(jù)阿侖尼斯（Arrhenius）模型計算出額定條件下LED的期望壽命。