高并行測試不能損害溫度性能
德國羅森海姆,2012年12月: 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布其MT9510 x16在一家批量生產(chǎn)基地成功證明其卓越溫控精度(+/- 2.0°C)。
Multitest始終用最嚴(yán)格的測量方法來控制溫控精度——測試數(shù)據(jù)代表在整個測試時間內(nèi)對受測器件(DUT)測定的動態(tài)溫度精度。在此情況下,該測量適于在三分鐘測試時間內(nèi)對QFN 4x4和QFN 5x5封裝進(jìn)行高低溫測試。
MT9510 x16確保即使對16試驗位測試來說,器件亦可真正在規(guī)定溫度條件下完全接受測試。 面臨的挑戰(zhàn)是如何讓器件保持溫度浸潤區(qū)的預(yù)浸潤溫度,即使在器件被送入測試區(qū)和被測試時。這只有在測試期間對測試區(qū)進(jìn)行先進(jìn)溫度控制的條件下才可能實現(xiàn)。
基于其MT9510 XP的成熟經(jīng)驗,Multitest通過完美融合高級的機械設(shè)計功能和領(lǐng)先的溫控流程,實現(xiàn)了適合高平行測試的高可靠性溫度性能。
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