三，產(chǎn)品的幾個(gè)關(guān)鍵考驗(yàn)點(diǎn)：

　　激光粒度儀有幾個(gè)關(guān)鍵考驗(yàn)點(diǎn)

　　(1)激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導(dǎo)體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項(xiàng)性能均優(yōu)于半導(dǎo)體激光器，且本錢(qián)也遠(yuǎn)高于半導(dǎo)體激光器，半導(dǎo)體激光器單向性差的題目，對(duì)測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性影響很大。因此推薦用戶選擇HE-NE激光器。

　　(2)光電探測(cè)器：國(guó)內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測(cè)器的種類大同小異，一般就是半環(huán)式、點(diǎn)陣式等，半環(huán)式的上風(fēng)是能夠以較少的通道數(shù)達(dá)到很高的探測(cè)精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時(shí)可以臨時(shí)采取并環(huán)操縱，對(duì)測(cè)試結(jié)果影響很小。點(diǎn)陣式屬于比較老的探測(cè)器類型，現(xiàn)在用的比較少。

　　(3)儀器結(jié)構(gòu)題目：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統(tǒng)和測(cè)試系統(tǒng)整合為一體，協(xié)同操縱，分體式則是分散系統(tǒng)獨(dú)立于測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試者需要先操縱分散系統(tǒng)，將樣品分散好再將分散好的樣品通過(guò)管道導(dǎo)進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。這樣的缺點(diǎn)是協(xié)同操縱性不好，比較重的顆粒輕易在管道中沉淀，清洗不便且對(duì)測(cè)試結(jié)果有一定影響，現(xiàn)在整體式結(jié)構(gòu)的儀器是發(fā)展方向，進(jìn)口產(chǎn)品大都采用整體式結(jié)構(gòu)，國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結(jié)構(gòu)發(fā)展。

　　(4)光路設(shè)計(jì)題目：光路設(shè)計(jì)是激光粒度儀研制的基礎(chǔ)，進(jìn)口產(chǎn)品的上風(fēng)不但在制造工藝上，光路的設(shè)計(jì)水平也是技術(shù)先進(jìn)的標(biāo)志，國(guó)內(nèi)的廠家現(xiàn)在大都采用簡(jiǎn)單的平行光路設(shè)計(jì)，據(jù)了解濟(jì)南微納公司推出的產(chǎn)品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進(jìn)的光路，能夠獲得更寬的散射角，在進(jìn)步測(cè)試精度方面有一定的上風(fēng)。

    四，需要了解的顆粒測(cè)試基礎(chǔ)知識(shí)

　　實(shí)際測(cè)試中，正確性是相對(duì)的，重復(fù)性是盡對(duì)的：在實(shí)際顆粒測(cè)試中，激光粒度儀測(cè)試的結(jié)果我們無(wú)法評(píng)價(jià)其“正確”或“不正確”，由于樣品都是不規(guī)則外形體，與其對(duì)比的測(cè)試結(jié)果也只是另外一種儀器測(cè)試所得，因此，我們只能說(shuō)A儀器的測(cè)試結(jié)果相對(duì)于B儀器來(lái)說(shuō)是正確的，而不能說(shuō)A儀器測(cè)試結(jié)果就是正確或不正確，很多測(cè)試職員總是喜歡與馬爾文的來(lái)對(duì)比，只要符合就是正確，不符合就是不正確，這實(shí)在是個(gè)誤區(qū)?？剂?jī)x器好壞的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)在是重復(fù)性，對(duì)某一種樣品分別取樣測(cè)試，假如前一次和后一次測(cè)試結(jié)果差異小那說(shuō)明儀器是穩(wěn)定的，重復(fù)性好的，假如差異大那就說(shuō)明這個(gè)儀器的測(cè)試效果不好。

　　五，實(shí)地測(cè)試

　　最好在選擇前寄送樣品實(shí)地測(cè)試，由于樣品的屬性千差萬(wàn)別，有的儀器并非全能，對(duì)某些樣品可能偏差比較大。