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測(cè)試測(cè)量

Multitest的MT2168展示卓越的拿放精度

激光制造網(wǎng)通訊員 來源:廣東星之球2011-09-07 我要評(píng)論(0 )   

德國羅森海姆 , 2011 年 8 月 --- 面向世界各地的集成元件制造商 ( IDM ) 和最終測(cè)試分包商 , 設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商 Multitest 公司...

德國羅森海姆,20118---面向世界各地的集成元件制造商IDM和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司日前宣布在亞洲的一家量產(chǎn)基地驗(yàn)證了其MT2168卓越的貼裝概念??蛻舭l(fā)現(xiàn),被測(cè)器件在輸出托盤中的放置速度顯著改善。

 

MT2168的位置探測(cè)與控制PDC功能解決了因機(jī)械公差或熱膨脹造成的托盤內(nèi)誤置問題。這是任何拿放式分選機(jī)的常見問題,對(duì)于小型封裝或不同托盤而言尤其如此。器件誤置的可能風(fēng)險(xiǎn)包括當(dāng)托盤疊放時(shí),發(fā)生損壞或造成卡料。MT2168PDC概念將基于傳感器的校準(zhǔn)功能集成于標(biāo)準(zhǔn)的拿放流程確保顯著改善放置速度。

 

MT2168PDC替代了重復(fù)教學(xué)過程但其執(zhí)行是即時(shí)的且獨(dú)立于人為操作和影響。因采用PDC,組件轉(zhuǎn)換之后的微調(diào)將成為歷史。此外,PDC是一種針對(duì)實(shí)際操作情形和要求如加熱階段而優(yōu)化的自適應(yīng)過程。

 

 

 

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