PI獨(dú)特的并行梯度搜索技術(shù)

該算法以對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)微米級(jí)甚至納米級(jí)的探索性運(yùn)動(dòng)為基礎(chǔ)，可測(cè)量品質(zhì)因數(shù)的局部梯度，例如相機(jī)鏡頭系統(tǒng)的圖像質(zhì)量或激光器的輸出功率。然后自動(dòng)遵循該梯度，直至達(dá)到所需的元件位置和方向。該程序提供出色的跟蹤功能，因此可以補(bǔ)償任何漂移效應(yīng)。PI獨(dú)特的方法可以使多個(gè)梯度搜索程序并行進(jìn)行。這意味著可以同步進(jìn)行多個(gè)元件、自由度、通道等的優(yōu)化。這一開創(chuàng)性功能可以將整體優(yōu)化時(shí)間縮短兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)量級(jí)。

梯度搜索可以在不到1秒的時(shí)間內(nèi)找到信號(hào)最大值。

同時(shí)調(diào)整多個(gè)單一元件

在復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)中對(duì)準(zhǔn)單個(gè)透鏡元件是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性且耗時(shí)的任務(wù)。然而，借助于PI獨(dú)特的內(nèi)置于控制器固件中的算法以及同樣獨(dú)特的機(jī)械調(diào)整單元，可在單一操作中并行對(duì)準(zhǔn)多個(gè)透鏡。

PI –自動(dòng)多通道光纖陣列對(duì)準(zhǔn)

將光纖（單模或多模光纖）連接到硅光子器件(SiP)仍然是這些器件的測(cè)試與封裝中具挑戰(zhàn)性和復(fù)雜性的任務(wù)之一。

基于其獨(dú)特的“快速多通道光子學(xué)對(duì)準(zhǔn)”系統(tǒng)，PI成功開發(fā)了一種用于晶圓探測(cè)的高吞吐量自動(dòng)化子系統(tǒng)。該視頻現(xiàn)在展示了實(shí)現(xiàn)芯片級(jí)測(cè)試和封裝自動(dòng)化的方法。

SiP生產(chǎn)快速光學(xué)校準(zhǔn)

PI快速硅光對(duì)準(zhǔn)FMPA技術(shù)可用于大多數(shù)的工序優(yōu)化

· 激光腔調(diào)節(jié)

· 攝像頭組裝

· 無(wú)人駕駛的激光傳感器

· 光纜

· 硅光子 (SiP)

-芯片檢測(cè)

-芯片封裝

· 量子計(jì)算