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企業(yè)新聞

雷尼紹重磅推出兩款激光新品RenAM 500M和XM-60

星之球科技 來源:雷尼紹2017-04-20 我要評論(0 )   

全新RenAM 500M增材制造系統,一款專門為工廠車間的金屬部件生產而設計的激光粉末床熔化式增材制造系統。它具有自動化的粉末和廢物處理系統,可實現工藝品質的一致性、減...

 世界領先的工程科技公司雷尼紹宣布中國市場正式推出RenAM 500M增材制造系統和XM-60多光束激光干涉儀。
 
RenAM 500M增材制造系統
RenAM 500M增材制造系統
 
全新RenAM 500M增材制造系統,一款專門為工廠車間的金屬部件生產而設計的激光粉末床熔化式增材制造系統。它具有自動化的粉末和廢物處理系統,可實現工藝品質的一致性、減少操作人員與粉末或廢物的接觸并確保高標準的系統安全性。該系統標配500W光纖激光, 并裝備全球頂級高精度Renishaw RESOLUTE™線形光柵編碼器,保證加工精密性,加工體積為250 mm × 250 mm × 350 mm。
 
RenAM 500M是利用雷尼紹自行設計制造的光學系統和控制平臺制成;這也將成為我們未來增材制造系統產品系列的基礎。
 
自動
與靈活度較高的AM 250和AM 400平臺相比,RenAM 500M自動化程度更高,因此是工業(yè)生產應用的理想之選。該緊湊型系統可自動執(zhí)行粉末篩分和再循環(huán),因此減少了人工處理和接觸材料的機會。這有助于提高安全性和確保金屬粉末質量的穩(wěn)定性。
 
直觀
堅固耐用的19英寸大觸摸屏用戶界面,機器控制軟件設計直觀?;赪indows® 操作系統,帶有專用的用戶界面,大圖標顯示加工設定流程,以便輕松瀏覽各種工藝步驟。
 
智能
獲得專利的高性能SafeChange™雙濾芯系統支持在穩(wěn)定的受控環(huán)境中長時間執(zhí)行加工操作。濾芯可安全有效收集工藝排放物。
 
智能控制系統主動感知濾芯的狀況,并在工藝條件惡化前自動重新將氣路轉向清潔的濾芯。然后提醒用戶更換濾芯殼體和濾筒。
 
XM-60多光束激光干涉儀
 
世界領先的測量專家雷尼紹發(fā)布XM-60多光束激光干涉儀,只需一次設定即可在任意方向測量線性軸全部6個自由度。與傳統激光測量技術相比,XM-60在易用性和省時方面做出了重大改進。
 
XM-60多光束激光干涉儀
 
XM-60多光束激光干涉儀
隨著對工件的公差要求越來越高,制造商需要考慮所有來自機床加工工件的誤差源;角度誤差以及線性和直線度誤差。XM-60經過一次設定便可采集所有誤差。這臺多光束激光干涉儀專為機床市場而設計,充實了包括XL-80激光干涉儀、XR20-W無線型回轉軸校準裝置以及QC20-W無線球桿儀在內的雷尼紹校準產品線。XM-60利用XC-80環(huán)境補償器對環(huán)境條件實施補償。
 
XM-60多光束激光干涉儀具有獲得專利的光學滾擺測量與光纖發(fā)射器這一獨特技術,是一臺高精度激光系統。輕型發(fā)射器遠離激光源,從而減少測量點處的熱影響。發(fā)射器可直接通過其側面甚至后面安裝到機器上或者上下倒置安裝,非常適用于難以接近的機器區(qū)域。
 
減少測量的不確定度對任何用戶都非常重要。雷尼紹XM-60直接測量機床誤差,減少其他測量技術中使用復雜數學計算而產生的誤差。直接測量可通過用戶現有的XL-80測量零件程序對機器調整前后的精度進行快速、簡單對比。接收器可進行完全無線操作,由充電電池供電,從而在機器移動中避免電纜拖拽,因為在測量過程中電纜拖拽可能會引起誤差或激光束“斷光”。 
XM-60測量6個自由度
XM-60測量6個自由度
 
每一臺XM-60多光束激光干涉儀的性能均可溯源至國際標準,而且在發(fā)貨前已經過認證。這可以讓客戶確信他們的系統將在精度要求高的場合一如既往地提供高精度測量。
 
為支持XM-60多光束激光干涉儀的推出,雷尼紹將發(fā)布全新版本CARTO軟件包,指導用戶完成測量過程。CARTO 2.0包含Capture(數據采集)和Explore(數據瀏覽)功能,目前用于XL-80激光干涉儀系統的數據采集和分析。CARTO用戶界面可輕松根據不同的用戶需求進行配置,能夠改變黑、白背景并顯示定制。支持平板電腦,具有擴展菜單部分,適合在小型屏幕進行操作。自動保存測試方法,因此重復測試的用戶可調用較早的一個測試。
 
Capture 2.0提供一個全新的零件程序生成器,支持Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix以及Siemens 840D等系列控制器,以后的版本中將支持更多控制器類型。其另一高級功能是在程序中基于用戶所選的平均周期,自動設定延時時間,并在使用XL-80系統時通過“時間匹配”模式支持定時采集。在XM-60模式下,Capture 2.0使用校準規(guī)直線度測量功能,更為方便。
在機器上工作的XM-60多光束激光干涉儀
在機器上工作的XM-60多光束激光干涉儀
 
XM-60為用戶提供一次移動后測量所有自由度的強大的機床診斷功能。通過在任何測量中一次采集三種線性誤差源和三種旋轉誤差源,用戶可以發(fā)現他們的特定誤差源;當只測量線性精度時看到的是各誤差源對線性精度的影響結果,而不是具體誤差源。利用Explore 2.0應用可處理所有數據,提供所有六個數據通道摘要視圖,每個誤差都可以根據相對應的一系列國際標準進行顯示。在Explore 2.0中可對大量數據進行輕松管理。用戶定義標簽能夠分配至數據庫中保存的任何測試或測試組,可利用這些標簽進行數據篩選。
 
雷尼紹XM-60多光束激光干涉儀存放在一個堅固的Peli™系統便攜箱中,便攜箱有足夠的空間來放置附件以及XC-80補償器組件。此便攜箱可用于激光系統的安全存儲以及運輸,在許多應用場合,激光裝置不用從便攜箱中取出即可執(zhí)行測量,簡化了操作。提供可選夾具組件,用于將XM-60安裝在機床上,夾具組件存放在便攜箱中,便于運輸。

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