近日，由炬光科技主持編寫的兩項國家標準《半導體激光器總規(guī)范》（標準號：GB/T 31358-2015）和《半導體激光器測試方法》（標準號：GB/T 31359-2015）在中國國家標準化委員會發(fā)布的《2015年第3號中國國家標準公告》中予以公告，并將于2015年8月1日正式實施。
《半導體激光器總規(guī)范》和《半導體激光器測試方法》兩項國家標準由西安炬光科技有限公司主持，聯(lián)合中國科學院西安光學精密機械研究所、中國科學院半導體研究所、北京國科世紀激光技術(shù)有限公司、武漢華工正源光子技術(shù)有限公司、中國電子科技集團公司第十三研究所等單位共同編寫，主要編寫人包括20名半導體激光器領(lǐng)域的專家和技術(shù)人員。
圖1 半導體激光器總規(guī)范
圖2 半導體激光器測試方法
《半導體激光器總規(guī)范》規(guī)范了半導體激光器的通用要求和指標體系，《半導體激光器測試方法》規(guī)范了半導體激光器測試的方法和參數(shù)， 此兩項國家標準可以為生產(chǎn)和使用半導體激光器的企業(yè)提供技術(shù)參考和指導，對規(guī)范我國半導體激光器的市場，促進半導體激光產(chǎn)業(yè)發(fā)展，推動激光器行業(yè)技術(shù)水平及對激光產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)調(diào)整和產(chǎn)業(yè)升級具有重要意義。
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